抗静电能力测试仪

静电解决方案:静电测量 静电监测 防静电产品设备评估 静电消除及防静电

抗静电能力测试和分析系统 (TLP / HBM / MM / CDM Tester)/人体放电模式/机器放电模式/元器件充放电模式/ESD闩锁效应测试仪(Latch Up Tester)

抗静电能力测试仪及 Option Model Ecdm 400E/800E/1200E

Ecdm 系列具有竞争力的手/半自动式/全自动式抗静电能力测试仪 测试/Adapter外接且可更的人性化设计,实现种测量模式分别模式(HBM,器放模式(MM直接充元器件放模式(CDM) , 元器件放模式(CPM,外也FI-CDM)。由内置有TLP传输线路脉冲)系功能,利用脉冲宽度大小亦可作V-I线测使用。

系列抗静电测试仪应范围非常广泛。可组合Wafer Stage 或者Manipulator 应用于Wafer level测试。

特点:

五大模式可选:HBM,MM,DI-CDM,FI-CDM,TLP

符合各种ESD规范标准。(MIL,EIA/JEDEC,JEITA,AEC,ESDA等)

最大电压+/- 8KV

可全程监视波形ESD测试/噪音污染测试

可搭配wafer或治具模式

■HBMMMD-CDMF-CDMTLP

    种测试仪

STAND型探头】

BOX型探头】

【各种探头(STAND型)】

DUT boardXY stageProbe


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